恒达微波依据“自由空间法测量原理”自主研发的材料测试系统HD-XMTS2200，主要由点聚焦透镜天线、一维电控滑轨、材料旋转台、测试支架、射频线缆、材料夹具、矢网以及测试软件组成，可实现：
1）平板材料的反射率、透波率测量；
2）磁性材料的磁导率测量；
3）非磁性材料的介电常数测量。
1、技术指标
1）测试频率范围：1-40GHz
2）工作方式：扫频测量
3）极化：垂直或水平
4）系统动态范围：≥40dB
5）介电常数测量范围：1-100
6）测量材料类型：平板型
7）材料大小：≥300×300mm
8）材料厚度：0.5-20mm
9） 控制通信接口：LNA
2、产品外形图
3、产品功能
（1）测量参数
通过点聚焦透镜天线以及控制滑轨运动实现材料
1）反射率、透波率测量；
2）磁性材料的磁导率测量；
3）非磁性材料的介电常数测量。
（2）向导式校准
根据选定的工作频段自动设定矢网的校准参数，提供图形化向导式操作界面，控制矢网和滑轨按预先设置进行到相应校准状态。用户按提示可方便完成复杂的矢网校准操作。
（3）一维滑轨控制
通过软件控制一维滑轨调整透镜相对材料的距离，完成测量的精准校准。
（4）可扩展
在材料测试支架下面增加方位旋转台，可以测量材料不同入射角下的参数测量。
4、测试软件界面
1）与仪表连接通信，控制仪表的频率、采集点数等进行设置；
2）实时曲线显示界面，直观查看当前的测试结果；
3）具有数据图形的保存、处理、输出功能；
4）可根据用户现有仪器进行软件扩展和升级。
恒达微波研制生产的“自由空间法材料测试系统”
具备材料参数测量、向导式校准、一维滑轨控制、可扩展等功能
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